一种基于缺陷区预判和水平集的TFT-LCD Mura缺陷检测方法

摘要

本发明公开了一种基于缺陷区域预判和水平集的TFT‑LCD Mura缺陷检测方法。该方法提出了一种缺陷区域预判法先找到缺陷区域，然后将缺陷区域的像素剔除，用余下的像素拟合得到背景图像；用原图像减去背景图像来消除背景不均匀性对缺陷分割的影响，求差后得到残差图像，然后用一种基于阈值的水平集方法对残差图像进行分割来检测得到缺陷。该方法可以获得精度较高的背景图像，对于光照影响有较好的鲁棒性，能够获得准确的分割结果以及较低的误检率。