Semiconductor device modeling; Semiconductor device reliability; Polyimides; Curing; Surfaces; Stability analysis; Reliability;
机译:使用低温固化介电材料的嵌入式微晶圆级封装(EMWLP)的工艺和可靠性
机译:低温密封热压缩粘合,采用电镀铜密封框架通过飞行切割用于晶圆级MEMS包装
机译:通过小尺寸的铜密封圈的塑性变形和低温焊接实现晶圆级真空包装
机译:用于晶圆级封装的低应力介电层,可减少晶圆翘曲并提高板级温度循环可靠性
机译:采用金-硅共晶结合和局部加热的低温晶圆级真空包装
机译:采用喷墨印刷重新分布层对电容式微机械超声换能器(CMUT)的扇出晶圆级包装的可行性
机译:晶圆级真空包装通过塑性变形和低温焊接铜封环而实现,占地面积小