Spectroscopy; Photonic band gap; Density measurement; Gallium arsenide; Conductivity measurement; Silicon; Frequency measurement;
机译:硅,砷化镓和砷化铟不同晶体取向下量子阱表面载流子密度的比较
机译:直接比较时间分辨的太赫兹光谱和Hall Van der PauW方法,用于测量散装半导体中的载波电导率和移动性
机译:时间分辨太赫兹光谱法测量配体交换硒化铅纳米晶薄膜中光激发载体的寿命,迁移率和扩散。
机译:亚带隙时间分辨太赫兹光谱法研究硅的载流子迁移率和电导各向异性
机译:低温生长的砷化镓中的飞秒解调:用于光谱学的高光谱纯度亚毫米波和太赫兹源。
机译:通过子带隙时间分辨的太赫兹光谱分式硅的载流子迁移率
机译:量子阱表面载流子密度的比较 硅,砷化镓和铟的不同晶体取向 砷化物
机译:掺杂硼,镓和铟的p型硅的迁移率,电阻率和载流子密度