dielectric materials; electromagnetic wave refraction; dielectric medium; multiple dielectric layers; rays incidence angle; Ray Tracing; Reflection; Refraction; Snell's Law; Wave Propagation;
机译:先进的多角度入射分辨率光谱仪,用于低折射率基板上的薄层分析
机译:射线光学中发病率,反射,折射和临界角度的定义的改进
机译:基于反射和折射的广义公式研究金属-电介质-金属多层结构中光的全角度负折射
机译:通过多个介电层折射光线的入射角
机译:用摄影测量法确定的高天顶角太阳光的天文折射与采用Rawinsonde轮廓的光线追踪计算机模型的比较。
机译:W / Si多层膜中相关横向密度波动的掠入射小角X射线散射研究
机译:用于纳米薄高.kappa的组成分析的筛选抗X射线荧光光谱法。电介质HFO2层