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【24h】

A 32kb 10T Subthreshold SRAM Array with Bit-Interleaving and Differential Read Scheme in 90nm CMOS

机译:具有90nm CMOS中的32KB 10T亚阈值SRAM阵列,位交错和差分读取方案

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摘要

The paper presents an SRAM array with bit interleaving and read scheme. The SRAM test-chip is fabricated in a 90nm CMOS technology. For leakage comparison, 49 kb arrays are implemented for both the conventional 6T cell and 10T cell. The leakage power cons
机译:本文介绍了具有位交织和读取方案的SRAM阵列。 SRAM测试芯片以90nm CMOS技术制造。对于泄漏比较,为传统的6T电池和10T细胞实现49kb阵列。泄漏功率缺点

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