机译:用于细间距锡铜无铅电镀的倒装芯片焊料凸点的新型凸点工艺
机译:凸块冶金条件下含Ti / Ni(V)/ Cu的Sn-37Pb和Sn-3Ag-1.5Cu / Sn-3Ag-0.5Cu复合倒装芯片凸块的电迁移
机译:倒装芯片Sn95 / Sb5凸块在Cr / Cr-Cu / Cu凸块下金属化上的电迁移研究
机译:外围超细沥青C2倒装芯片互连的电迁移分析焊接Cu Pillar凸块
机译:研究无铅倒装芯片焊料凸块中的电迁移行为。
机译:使用超声波传感器检查倒装芯片焊锡凸点的缺陷
机译:使用焊接Cu柱凸块的Au电镀焊盘上的外围倒装芯片互连
机译:利用au-pt-pd厚膜导体在低温共烧陶瓷(LTCC)基板上分析细间距,倒装芯片焊料互连的拉伸强度行为