Critical Voltage; Double Exponential Current Pulse; Failure Probability; Single Event Transients;
机译:负偏置温度不稳定性对缩放逻辑电路单事件瞬态的影响
机译:在大型集成电路中单个事件效应敏感性测量的通用评估系统的设计与验证
机译:在大型集成电路中单个事件效应敏感性测量的通用评估系统的设计与验证
机译:缩放逻辑电路中单事件瞬态的设计敏感性
机译:用于混合信号延迟锁定环(DLL)和时钟电路的单事件瞬态建模和缓解技术。
机译:缓解SiGe-HBT电流模式逻辑电路中的单事件效应
机译:65-nm CMOS顺序逻辑电路的单事件镦粗敏感性研究