机译:球栅阵列(BGA)组装中焊点可靠性的快速评估方法-第二部分:可靠性实验与数值模拟
机译:球栅阵列(BGA)组件中焊点可靠性的快速评估方法-第一部分:蠕变本构关系和疲劳模型
机译:热循环效应BGA无铅焊点降低可靠性
机译:低银BGA组装阶段II-可靠性评估第七份报告:混合冶金焊点热循环结果
机译:锡铅和无铅焊点在等温老化下的微观结构变化及其对热疲劳可靠性的影响,包括混合焊点在等温老化下的微观结构变化
机译:随机空隙的产生以及热冲击载荷对发光二极管倒装芯片焊点机械可靠性的影响
机译:使用四个故障标准的低银BGA焊点可靠性分析