elemental mapping; energy dispersive x-ray spectrometry; image processing; microanalysis; particle analysis; scanning electron microscopy; x-ray microanalysis; x-ray spectrum imaging;
机译:扫描电子显微镜/硅漂移检测器能量色散光谱(SEM / SDD-EDS)和NIST DTSA-II对硼化物,碳化物,氮化物,氧化物和氟化物的电子激发X射线定量分析
机译:通过扫描电子显微镜/硅漂移检测器能量色散X射线光谱法(SEM / SDD-EDS)进行高精度和高精度的元素微分析
机译:通过扫描电子显微镜/硅漂移检测器能量色散X射线光谱法(SEM / SDD-EDS)进行高精度和高精度的元素微分析
机译:使用SEM / SDD-EDS映射和NIST Lispix表征异质颗粒
机译:表征多粒子分布和随机异构介质结构的波动。
机译:通过扫描电子显微镜/硅漂移检测器能量色散X射线光谱法(SEM / SDD-EDS)进行高精度和高精度的元素微分析
机译:通过扫描电子显微镜/硅漂移检测器能量色散X射线光谱法(SEM / SDD-EDS)进行高精度和高精度的元素微分析
机译:sEm-Epma详细研究高比放射性粒子(热粒子)