SRAM; core-cell; resistive-bridging defects;
机译:SRAM中不同技术节点的电阻桥接缺陷的影响
机译:SRAM中不同技术节点的电阻桥接缺陷的影响
机译:在电阻缺陷存在下比较电源电压对基于CMOS和FinFET的SRAM的影响
机译:SRAM核心单元中电阻桥接缺陷的影响
机译:在软错误恢复能力和性能约束下,根据每单位面积产量的最佳容错SRAM设计。
机译:使用双小梁金属杯单独或与瞬间骨移植组合复杂髋臼缺陷的中期术后
机译:sRam核心单元中电阻 - 桥接缺陷的分析:从90nm到40nm技术节点的比较研究*