机译:PEDOT的厚度调制钝化性能:在后隙有机/硅太阳能电池中的晶体硅晶片上的PSS层
机译:Al_2O_3基硅表面钝化层中的陷阱电荷密度
机译:硅表面钝化用SiO_2 / SiN_x介电双层中电荷的位置和稳定性
机译:半绝缘多晶硅(SIPOS)的低压化学气相沉积及其分析:应用于电力二极管钝化的应用
机译:化学计量和氢含量对硅和二氧化硅上氮化硅和氧氮化物层的物理和电学性质的影响的研究
机译:双极性硅量子点中电荷缺陷的钝化和表征
机译:勘误:“关于用于硅表面钝化的siO2 / siNx介电双层电荷的位置和稳定性”[应用物理学报(2014)115(144105)]
机译:硅上的宽带隙钝化层