机译:直接比较时间分辨的太赫兹光谱和Hall Van der PauW方法,用于测量散装半导体中的载波电导率和移动性
机译:用范德堡方法测量各向异性半导体的电导率第2部分。接触点在样品侧面的角上的位置
机译:用范德堡方法测量各向异性半导体的电导率第1部分。接触点在平面中间
机译:van der Pauw方法测量高电阻半导体
机译:超越范德堡:四点磁传输表征的新方法。
机译:时间分辨太赫兹光谱法和Hall Van der Pauw方法的直接比较用于测量体半导体中的载流子电导率和迁移率
机译:直接比较时间分辨的太赫兹光谱和展示船舶导电性和散装半导体流动性的方法
机译:使用van der pauw方法测量高电阻率半导体。