integrated circuit manufacture; probes; smart cards; integrated circuit testing; fiducial probe card alignment technology; production wafer probing; integrated circuit manufacturing; test cell management; probe card interoperability; semiconductor ma;
机译:结合有限元方法和优化技术的新型探针设计,用于晶圆探测中的垂直探针卡
机译:铂涂层探针可在基于AFM探针的记录技术上相对于涂层硅晶片以100 mm s(-1)滑动
机译:铂涂层探针可在基于AFM探针的记录技术上相对于涂层硅晶片以100 mm s〜(-1)滑动
机译:实施生产晶圆探测的基准探针卡对齐技术
机译:用于新型MEMS晶圆探针卡的微探针的设计,仿真,制造和测试。
机译:组织阵列作为3D重建技术中切片对齐的基准标记
机译:具有超密集阵列金属探针的mEms垂直探针卡,用于晶圆级IC测试
机译:半导体测量技术:用于集成电路测试系统的手动晶圆探针台