首页> 外文会议> >Two-component photoluminescence decay and carrier localization in InGaN/GaN multiple quantum well structures
【24h】

Two-component photoluminescence decay and carrier localization in InGaN/GaN multiple quantum well structures

机译:InGaN / GaN多量子阱结构中的双组分光致发光衰减和载流子定位

获取原文

著录项

相似文献

  • 外文文献
  • 中文文献
  • 专利
获取原文

客服邮箱:kefu@zhangqiaokeyan.com

京公网安备:11010802029741号 ICP备案号:京ICP备15016152号-6 六维联合信息科技 (北京) 有限公司©版权所有
  • 客服微信

  • 服务号