机译:微电子设备和集成电路的辐射硬度保证测试:辐射环境,物理机制和硬度保证基础
机译:在中子,质子和γ辐射下测试超大规模集成电路的VLSI集成电路和硅条检测器的辐射硬度
机译:基于伽玛射线和X射线辐射相结合的总电离剂量硬度测试的集成方法
机译:通过具有商业集成电路工艺的设计技术采用辐射硬度
机译:通过设计技术对硅锗异质结双极晶体管和数字逻辑电路进行硬度保证测试和辐射硬化。
机译:低温下红外图像传感器读出集成电路单事件效应辐射硬度保证的更新
机译:替代的栅极设计,用于提高块状CMOS集成电路的辐射硬度