机译:在完全耗尽的增强和累积模式SOI MOSFET中研究载流子产生
机译:一种测量部分耗尽SOI MOSFET产生寿命的简单技术
机译:SOI-MOSFET的产生寿命,界面态密度,有源缺陷密度和氧化物电阻率测量及其对辐射的依赖性
机译:完全耗尽增强和累积模式SOI MOSFET中的生成寿命测量
机译:适用于部分耗尽型绝缘体上硅(SOI)MOSFET的面积有效体接触。
机译:FinFET和带铁电电容器的全耗尽绝缘体上硅(FDSOI)MOSFET的磁滞窗口研究
机译:用于模拟电路仿真的基于物理的部分耗尽sOI mOsFET的紧凑模型