Division of Solid State Physics and NanoLund, Lund University, P.O. Box 118, SE-22100, Sweden;
Department of Micro- and Nanosciences, Aalto University, P.O. Box 13000, FI-00076 Aalto, Finland;
Department of Micro- and Nanosciences, Aalto University, P.O. Box 13000, FI-00076 Aalto, Finland;
Engineered Nanosystems Group, Aalto University, P.O. Box 12200, FI-00076 Aalto, Finland;
Light-emitting diodes; current crowding; diffusion-driven charge transport; selective-area growth; composition grading; high-power operation;
机译:通过电阻率自适应算法解决传输电流的HTS磁带和设备中的交流损耗
机译:金属互连的电阻损耗增加对ULSI器件可靠性和功能的影响
机译:ULSI设备中铜互连的电阻损耗增加-可靠性问题
机译:通过新的扩散驱动装置消除大面积LED中的电阻损失
机译:用于大面积电子应用的多晶硅器件:OLED显示器和X射线传感器。
机译:光控电阻式存储设备中的非希伯来学习实现
机译:新型扩散驱动器件消除了大面积LED中的电阻损耗