Infineon Technologies AG, Dept CL CTS Failure Analysis, Munich, Germany;
机译:AC-SSRM 2-D横截面掺杂分析DRAM接入设备触点植入物
机译:通过高灵敏度扫描扩展电阻显微镜(SSRM)对低掺杂区域进行全面的2D载流子分析,用于功率器件应用
机译:扫描扩散电阻显微镜(SSRM)确定的高度选择性发射极的局部掺杂曲线
机译:太赫兹时域光谱与电化学阳极氧化技术的高分辨率掺杂分布图演示
机译:使用制图本体探索用于植被制图的非常高的空间分辨率数据:识别生命形式到制图地层
机译:单细胞技术应用于HIV-1研究:达到成熟度
机译:具有组织发展水平的IT - 环境演变的相关性:通过消除损失达到城级成熟度
机译:适应性,可靠系统(sTaRs)计划的软件技术。针对Cmm的清洁度映射:软件详细映射到洁净室软件工程过程的能力成熟度模型