Dept. Of Advanced Materials Engineering, Sungkyunkwan University, 300 Cheoncheon-dong, Jangan-gu, Suwon, Gyeonggi-do 440-746, Korea;
pb-free solder; electrolytic ni; interfacial reaction; shear test; Sn-Ag solder;
机译:多次回流后具有电镀Au / Ni球栅阵列(BGA)衬底的In-48Sn焊点的界面反应和力学性能
机译:回流时间对Sn-0.7Cu焊料/ Cu和化学镀Ni-P EGA接头的界面反应和剪切强度的影响
机译:电解Ni BGA衬底上无铅Sn-Ag-Cu焊料的IMC形态,界面反应和接头可靠性
机译:回流中无铅Sn-3.5Ag / Ni BGA焊点的界面反应和剪切强度
机译:倒装芯片技术中焊点的可靠性:润湿,界面反应,机械剪切测试和电迁移等基础研究的方法。
机译:多重回流对Sn-0.5Cu-Al(Si)焊料和Cu基质的界面反应和力学性能的影响
机译:回流过程中无铅sn-3.5ag / Ni BGa焊点的界面反应和剪切强度