RD Department, NAMICS Corporation, 3993 Nigorikawa, Niigata-City, 950-3131, Japan;
机译:使用新型温度感应技术的倒装芯片封装导热底部填充材料的热特性
机译:适用于倒装芯片的新型可热修复的底部填充胶
机译:用于倒装芯片应用的可热返工的底部填充和返工工艺的开发
机译:高性能倒装芯片应用的导热底部填充材料的特性
机译:倒装芯片封装中的底部填充粘合特性,残余应力和热应力分析。
机译:导热填料对阻燃剂和导热聚酰胺6的阻燃性导热性和热行为的影响
机译:使用试验元素组芯片用压阻传感器使用倒装芯片粘接工艺引起的芯片底部填埋和非导电膜对芯片残留应力的评价
机译:倒装芯片组装和底部填充应力;用aTC4.1装配测试芯片测量并用有限元法分析