Power Electronics Research Center(PERC), National Institute of Advanced Industrial Science and Technology(AIST), Tsukuba Central 2, 1-1-1 Umezono, Tsukuba, Ibaraki 305-8568, Japan;
6H-SiC; pn diode; mesa structure; breakdown voltage; critical electric field;
机译:6H-SiC上P〜+ PN〜+和P〜+ NN〜+二极管的正向特性
机译:在6H-SiC(0001)衬底上生长和制造基于AlGaN的紫外发光二极管以及载流子阻挡层对其发射特性的影响
机译:(000-1)C面上4H-SiC pin二极管和高压4H-SiC pin二极管的正向电压降级,正向降级减小
机译:在4英寸直径InP衬底上制造具有InP钝化结构的台面型InGaAs引脚PD
机译:在碳化硅衬底上生长和制造深紫外发光二极管
机译:从硅衬底上分离出来的独立式GaN上的InGaN / GaN蓝色发光二极管的正向隧穿特性研究
机译:6H-SiC衬底上n-ZnO / p-AlGaN异质结发光二极管的制备与表征
机译:4H和6H-siC pn结二极管中的高场快速上升脉冲失效