Department of Electronic Science and Engineering, Kyoto University, Japan;
anisotropy; channel mobility; KOH etching; MOSFETs;
机译:侧壁对6H-SiC肖特基势垒源极/漏极NMOSFET性能的影响分析
机译:侧壁对6H-SiC肖特基势垒源极/漏极NMOSFET性能的影响分析
机译:利用X射线形貌研究了熔融KOH + Na_2O_2刻蚀形成的刻蚀坑与重掺杂n〜+ -4H-SiC中位错类型的相关性
机译:4H-和6H-SIC制造的P沟道MOSFET的电气性能
机译:光电化学刻蚀制备的柱状多孔碳化硅的形成与表征。
机译:KOH溶液中Si的一步各向异性湿法腐蚀制备的两层微结构
机译:电化学腐蚀对n型4H-和6H-siC电致发光的影响
机译:光学制备T栅极薄膜硅基蓝宝石mosfet的微波性能