首页> 中国专利> 包含接触结构有形成于接触蚀刻中止层之侧壁上之保护层的半导体装置

包含接触结构有形成于接触蚀刻中止层之侧壁上之保护层的半导体装置

摘要

本发明涉及包含接触结构有形成于接触蚀刻中止层之侧壁上之保护层的半导体装置,在形成具有接触插塞的半导体装置时,其中该接触插塞包含形成于蚀刻中止层之侧壁上以减少短路风险之保护层,可藉由进行溅镀制程以从接触区移除材料以及再沉积被移除的该材料于该蚀刻中止层的该侧壁上,来形成该保护层。

著录项

  • 公开/公告号CN104051333B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2017-08-01

    原文格式PDF

  • 申请/专利权人 格罗方德半导体公司;

    申请/专利号CN201410092879.7

  • 发明设计人 K·弗罗贝格;M·莱佩尔;K·赖歇;

    申请日2014-03-13

  • 分类号

  • 代理机构北京戈程知识产权代理有限公司;

  • 代理人程伟

  • 地址 英属开曼群岛大开曼岛

  • 入库时间 2022-08-23 09:59:23

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2017-08-01

    授权

    授权

  • 2014-10-22

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/768 申请日:20140313

    实质审查的生效

  • 2014-10-22

    实质审查的生效 IPC(主分类):H01L 21/768 申请日:20140313

    实质审查的生效

  • 2014-09-17

    公开

    公开

  • 2014-09-17

    公开

    公开

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