首页> 外文会议>International Conference on Silicon Carbide and Related Materials 2001 Pt.2 Oct 28-Nov 2, 2001 Tsukuba, Japan >Radiation Response of p-Channel 6H-SiC MOSFETs Fabricated Using Pyrogenic Conditions
【24h】

Radiation Response of p-Channel 6H-SiC MOSFETs Fabricated Using Pyrogenic Conditions

机译:使用热解条件制造的p沟道6H-SiC MOSFET的辐射响应

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摘要

We present the first observation of total dose effects of gamma-ray irradiation on 6H-SiC p-channel MOSFETs. The transistors were irradiated using a ~(60)Co source to very high total dose levels. The electrical active defects created by irradiation change the components response.
机译:我们目前对6H-SiC p沟道MOSFET的伽马射线辐照的总剂量效应进行了首次观察。使用〜(60)Co光源将晶体管辐照至非常高的总剂量水平。辐照产生的电活性缺陷会改变组件的响应。

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