Japan Atomic Energy Research Institute, 1233 Watanuki, Takasaki, Gunma 370-1292, Japan;
gamma-ray irradiation; interface traps; oxide charge traps;
机译:剂量响应,P沟道MOSFET(RadFET)的辐射灵敏度和信号衰落,用CO-60照射高达50 GY
机译:剂量响应,P沟道MOSFET(RadFET)的辐射灵敏度和信号衰落,用CO-60照射高达50 GY
机译:改善高温高湿条件下SiC MOSFET的辐射响应
机译:4H-和6H-SIC制造的P沟道MOSFET的电气性能
机译:单通道压缩应变下具有沟道的p沟道MOSFET的凹陷硅锗结参数优化研究。
机译:负栅偏置SiC MOSFET的辐射响应
机译:通过氧化沉积和N2O退火制造的4H-SiC {0001}和非基面上的P沟道MOSFET