NTT Device Technology Labs NTT Corporation 3-1 Morinosato-Wakamiya Atsugi-shi Kanagawa 243-0198 Japan;
Vertical cavity surface emitting lasers; Modulation; Substrates; Silicon; Quantum well devices;
机译:液相线-区方法生长的InGaAs三元衬底上的高温度1.3μm波段激光器
机译:通过使用温度相关反射率(TDR)反射镜,可实现非常高的特征温度和恒定的1.3- / splμm/ m的GaInAsP-InP应变层量子阱激光器的差分量子效率
机译:1.3- $ muhbox {m} p $掺杂和未掺杂的InAs / GaAs量子点激光器中增益曲线的温度特性
机译:在绝缘体基板上1.3-μm膜激光器的温度特性
机译:通过激光烧蚀在金属和非金属基板上沉积高温超导薄膜。
机译:基底预热温度对激光熔覆沉积技术制备的12CrNi2的组织性能和残余应力的影响
机译:用于在si衬底上单片生长的1.3μmInas/ Gaas量子点激光器的缺陷滤光层的优化
机译:高温下铝基溅射au / Cr薄膜的摩擦学特性