Philips Research Laboratories, Prof. Holstlaan 4, 5656 AA Eindhoven, The Netherlands;
机译:像差校正低压扫描电镜的设计
机译:开发像差校正的肖特基发射SEM和测量像差的方法
机译:使用低压像差校正透射电子显微镜检查石墨烯上的钴基纳米晶体
机译:低压SEM的Wien滤波器像差校正器的边缘领域
机译:计算光场显示器,用于校正视觉像差。
机译:在三维单分子定位显微镜中以纳米级精度校正依赖于场的像差
机译:用像差校正,低压杆探测几层石墨烯的机械性能