Lviv Polytechnic National University Department of semiconductor electronics Lviv Ukraine;
Polysilicon; impedance; hopping conductance; cryogenic temperatures;
机译:通过射频溅射法低温生长多晶硅膜(第二次报告)-多晶硅膜的结构,电学和光学性质-
机译:多晶硅膜厚度对高级准分子激光退火多晶硅薄膜晶体管辐射响应的影响
机译:TEM调查高质量射频硅基板的多晶硅薄膜/基板界面的作用
机译:用于传感器应用的多晶硅的磁电导电
机译:非均匀性对多晶硅硅薄膜(多晶硅,晶界,分布函数,掺杂曲线,TEM)中电阻率建模的影响。
机译:射频直流和射频叠加直流磁控溅射沉积的透明导电掺铝ZnO多晶薄膜的载流子输运和晶体学取向特征
机译:通过快速温度循环确定多晶硅掺杂氧化铪薄膜的压电响应
机译:冶金硅衬底上的硅薄膜 - 阶段II。专题报告第3号。薄膜多晶硅太阳能电池的稳定性