机译:FinFET SRAM单元设计在高电源电压下具有BTI稳健性,在低电源电压下具有高良率
机译:SRAM中备用电源电压的硅后调整,以减少由于参数数据保留故障而导致的良率损失
机译:参数变化下大型SRAM的最小电源电压和良率估算
机译:SRAM对电源电压波动的屈服敏感性及其对Vmin的影响
机译:纳米级SRAM的电源电压最小化和良率感知。
机译:草原产量对奥地利天气变化的空间敏感性及其对未来的影响
机译:电源电压对双阱和三阱28 nm CMOS SRAM多单元翻转软错误敏感性的影响