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1.
SRAM Yield Sensitivity to Supply Voltage Fluctuations and Its Implications on Vmin
机译:
SRAM对电源电压波动的屈服敏感性及其对Vmin的影响
作者:
Kanj Rouwaida
;
Joshi Rajiv
;
Nassif Sani
会议名称:
《IC Design amp; Technology, 2007 IEEE International Conference on》
|
1979年
2.
Low-Leakage ROM Architecture for High-Speed Mobile Applications
机译:
适用于高速移动应用的低泄漏ROM架构
作者:
Turier Arnaud
;
Ammar Lotfi Ben
会议名称:
《IC Design amp; Technology, 2007 IEEE International Conference on》
|
1979年
关键词:
Dual-Vt;
High-Speed portable applications;
Leakage currents;
ROM architecture;
3.
Carrier Density and Effective Mass Calculations for Carbon Nanotubes
机译:
碳纳米管的载流子密度和有效质量计算
作者:
Marulanda Jose M.
;
Srivastava Ashok
会议名称:
《IC Design amp; Technology, 2007 IEEE International Conference on》
|
1979年
关键词:
Carbon nanotubes;
effective mass;
intrinsic concentration;
4.
A Low-Cost Color Interpolation Method for CCD Digital Still Camera
机译:
CCD数码相机的低成本色彩插值方法
作者:
Yang Kai-Sheng
;
Chen Pei-Yin
;
Chang Chia-Wen
;
Chang Yu-Pin
会议名称:
《IC Design amp; Technology, 2007 IEEE International Conference on》
|
1979年
关键词:
Bayer CFA pattern;
color filter array (CFA);
digital still cameras (DSCs);
low-cost;
5.
Sub-20nm Surrounding-Gate Bridge-Channel MOSFETs for Low Power and High Performance Applications
机译:
适用于低功耗和高性能应用的20nm以下亚栅环绕栅极桥沟道MOSFET
作者:
Yun Eun Jung
;
Lee Sung-Young
;
Kim Min Sang
;
Kim Sung Min
;
Choi Inhyuk
;
Lee Jimyoung
;
Park Bork Kyoung
;
Kim Dong-Won
;
Park Donggun
会议名称:
《IC Design amp; Technology, 2007 IEEE International Conference on》
|
1979年
6.
Design for Mixed Circuits of Organic FETs and Plastic MEMS Switches for Wireless Power Transmission Sheet
机译:
用于无线输电板的有机FET和塑料MEMS开关的混合电路设计
作者:
Takamiya Makoto
;
Sekitani Tsuyoshi
;
Miyamoto Yoshio
;
Noguchi Yoshiaki
;
Kawaguchi Hiroshi
;
Someya Takao
;
Sakurai Takayasu
会议名称:
《》
|
1979年
7.
Power, Performance, and Area Optimization Through the Use of Semiconductor Trench Decoupling Capacitors
机译:
通过使用半导体沟槽去耦电容器来优化功率,性能和面积
作者:
Garofano Umberto
;
Yoder Joseph W.
;
Bickford Jeanne Paulette
;
Ng Charlie S.
会议名称:
《IC Design amp; Technology, 2007 IEEE International Conference on》
|
1979年
8.
On the Scalability of Redundancy based SER Mitigation Schemes
机译:
基于冗余的SER缓解方案的可扩展性
作者:
Seifert N.
;
Gill B.
;
Zia V.
;
Zhang M.
;
Ambrose V.
会议名称:
《IC Design amp; Technology, 2007 IEEE International Conference on》
|
1979年
关键词:
BISER;
DICE;
MBU;
SER;
SET;
SEUT;
charge sharing;
radiation;
redundancy;
soft error;
9.
Novel Variation-Aware Circuit Design of Scaled LTPS TFT for Ultra low Power, Low-Cost Applications
机译:
适用于超低功耗,低成本应用的可缩放LTPS TFT的新颖的变化感知电路设计
作者:
Li Jing
;
Kang Kunhyuk
;
Roy Kaushik
会议名称:
《IC Design amp; Technology, 2007 IEEE International Conference on》
|
1979年
关键词:
Low-temperature polycrystalline-Silicon (LTPS);
Response Surface Method (RSM);
grain boundary (GB);
thin film transistor (TFT);
10.
High-Performance Device Optimization and Dual-VT Technology Options for DoubleGate FET
机译:
DoubleGate FET的高性能器件优化和Dual-VT技术选项
作者:
Bansal Aditya
;
Kim Keunwoo
;
Kim Jae-Joon
;
Mukhopadyay Saibal
;
Chuang Ching-Te
;
Roy Kaushik
会议名称:
《IC Design amp; Technology, 2007 IEEE International Conference on》
|
1979年
11.
Misalignment of the Block Oxide Height in Self-Aligned bSPIFET
机译:
自对准bSPIFET中的块状氧化物高度未对准
作者:
Lin Jyi-Tsong
;
Eng Yi-Chuen
会议名称:
《IC Design amp; Technology, 2007 IEEE International Conference on》
|
1979年
12.
Plasma-Induced Damage and Its Control in Plasma Etching Processes
机译:
等离子体刻蚀过程中的等离子体诱导损伤及其控制
作者:
Samukawa Seiji
会议名称:
《IC Design amp; Technology, 2007 IEEE International Conference on》
|
1979年
关键词:
Plasma materials-processing applications;
Pulse time modulation;
Semiconductor defects;
Ultraviolet radiation effects;
13.
A 5-bit Interpolating Flash ADC in 0.13-驴m SiGe BiCMOS
机译:
采用0.13个键位的SiGe BiCMOS的5位内插闪存ADC
作者:
Chen Po-Hsin
;
Peckerar Martin
会议名称:
《IC Design amp; Technology, 2007 IEEE International Conference on》
|
1979年
14.
Software Aspects of the Digital RF Processor (DRP驴)
机译:
数字射频处理器(DRP驴)的软件方面
作者:
Staszewski Roman
;
Jung Tom
;
Staszewski Robert B.
;
Leipold Dirk
;
Murphy Tom
会议名称:
《IC Design amp; Technology, 2007 IEEE International Conference on》
|
1979年
15.
Generation of the Optimal Bit-Width Topology of the Fast Hybrid Adder in a Parallel Multiplier
机译:
在并行乘法器中快速混合加法器的最佳位宽拓扑的生成
作者:
Das Sabyasachi
;
Khatri Sunil P.
会议名称:
《IC Design amp; Technology, 2007 IEEE International Conference on》
|
1979年
16.
Design Asynchronous Circuits for Soft Error Tolerance
机译:
设计具有软容错功能的异步电路
作者:
Kuang Weidong
;
Xiao Enjun
;
Ibarra Casto Manuel
;
Zhao Peiyi
会议名称:
《IC Design amp; Technology, 2007 IEEE International Conference on》
|
1979年
17.
Built-In Soft Error Resilience for Robust System Design
机译:
内置的软错误恢复能力,可进行稳健的系统设计
作者:
Mitra Subhasish
;
Zhang Ming
;
Seifert Norbert
;
Mak TM
;
Kim Kee Sup
会议名称:
《IC Design amp; Technology, 2007 IEEE International Conference on》
|
1979年
18.
In-depth Analysis of 4T SRAM Cells in Double-Gate CMOS
机译:
双门CMOS中的4T SRAM单元的深入分析
作者:
Giraud Bastien
;
Vladimirescu Andrei
;
Amara Amara
会议名称:
《IC Design amp; Technology, 2007 IEEE International Conference on》
|
1979年
关键词:
Fully Depleted Double Gate technology;
Memory SRAM cells;
Static Noise Margin;
Write Disturb;
19.
Technology and Application of 3D Interconnect
机译:
3D互连技术与应用
作者:
Jones Robert E.
;
Chatterjee Ritwik
;
Pozder Scott
会议名称:
《IC Design amp; Technology, 2007 IEEE International Conference on》
|
1979年
20.
Mechanisms for Junction Degradation of Advanced MOSFETs Induced by Plasma Processing
机译:
等离子体处理引起的高级MOSFET结退化的机理
作者:
Kamei Masayuki
;
Eriguchi Koji
;
Okada Kenji
;
Ono Kouichi
会议名称:
《IC Design amp; Technology, 2007 IEEE International Conference on》
|
1979年
关键词:
MOSFET;
capacitance;
damage;
high-k gate stack;
junction;
plasma;
21.
Transistor Leakage Components Effect of Leakage on VCO performance
机译:
晶体管泄漏成分及泄漏对VCO性能的影响
作者:
Dao Thuy
;
Dahl Phil
;
Connell Larry
;
Bushman Mike
会议名称:
《IC Design amp; Technology, 2007 IEEE International Conference on》
|
1979年
22.
Self-aligned Block Oxide Process for bFDSOI Devices
机译:
bFDSOI器件的自对准氧化块工艺
作者:
Eng Yi-Chuen
;
Lin Jyi-Tsong
会议名称:
《IC Design amp; Technology, 2007 IEEE International Conference on》
|
1979年
23.
Soft Error Considerations for Multicore Microprocessor Design
机译:
多核微处理器设计的软错误注意事项
作者:
Robinson William H.
;
Alles Michael L.
;
Bapty Theodore A.
;
Bhuva Bharat L.
;
Black Jeffrey D.
;
Bonds Alfred B.
;
Massengill Lloyd W.
;
Neema Sandeep K.
;
Schrimpf Ronald D.
;
Scott Jason M.
会议名称:
《IC Design amp; Technology, 2007 IEEE International Conference on》
|
1979年
关键词:
CMOS integrated circuits;
hardware/software co-design;
radiation hardened by design (RHBD);
single-event effects;
soft error mitigation;
24.
On chip post-processed microbattery powered with RF and thermal energy through a power management circuit
机译:
通过电源管理电路为RF和热能供电的片上后处理微电池
作者:
Lhermet Helene
;
Condemine Cyril
;
Salot Raphael
;
Plissonnier Marc
;
Bacquet Sylvain
;
Audebert Patrick
会议名称:
《IC Design amp; Technology, 2007 IEEE International Conference on》
|
1979年
关键词:
DC/DC converter;
microbattery;
power management;
thermogenerator;
25.
A Novel VLSI Divide and Conquer Array Architecture for Vector-Scalar Multiplication
机译:
一种用于向量标量乘法的新型VLSI分而治之阵列架构
作者:
Poonnen Thomas
;
Fam Adly T.
会议名称:
《IC Design amp; Technology, 2007 IEEE International Conference on》
|
1979年
关键词:
array architecture;
parameterized divide and conquer algorithm;
vector-scalar multiplication;
very large scale integration;
26.
A More Effective Ceff for Slew Estimation
机译:
斜率估计的更有效Ceff
作者:
Zhou Ying
;
Li Zhuo
;
Kanj Rouwaida N.
;
Papa David A.
;
Nassif Sani
;
Shi Weiping
会议名称:
《IC Design amp; Technology, 2007 IEEE International Conference on》
|
1979年
27.
Leakage Analysis for FinFET Devices using Self-Consistent Electro-Thermal Modeling
机译:
使用自洽电热模型对FinFET器件进行泄漏分析
作者:
Kumar Satish
;
Joshi Rajiv V.
;
Chuang C. T.
;
Kim K.
;
Murthy J. Y.
会议名称:
《IC Design amp; Technology, 2007 IEEE International Conference on》
|
1979年
关键词:
FinFET;
Leakage;
Power;
28.
Re-Using Clock Management Unit to implement Power Gating and Retention for Leakage Reduction at the 65-nm Technology Node
机译:
重新使用时钟管理单元在65nm技术节点上实现功率门控和保留以减少泄漏
作者:
Royannez P.
;
Jumel F.
;
Mair H.
;
Scott D.
;
Rachidi A. Er
;
Lagerquist R.
;
Chau M.
;
Gururajarao S.
;
Thiruvengadam S.
;
Clinton M.
;
Menezes V.
;
Hollingsworth R.
;
Vaccani J.
;
Piacibello F.
;
Culp N.
;
Rosal J.
;
Ball M.
;
Ben-Amar F.
;
Bouetel L.
;
Domerego O.
;
Lach
会议名称:
《IC Design amp; Technology, 2007 IEEE International Conference on》
|
1979年
关键词:
Leakage power management;
wireless SoC;
29.
A design methodology of chip-to-chip wireless power transmission system
机译:
芯片对芯片无线电力传输系统的设计方法
作者:
Onizuka Kohei
;
Takamiya Makoto
;
Kawaguchi Hiroshi
;
Sakurai Takayasu
会议名称:
《IC Design amp; Technology, 2007 IEEE International Conference on》
|
1979年
30.
A Probabilistic Logic for Nanoscale Devices
机译:
纳米器件的概率逻辑
作者:
Lu Xiaojun
;
Song Xiaoyu
会议名称:
《IC Design amp; Technology, 2007 IEEE International Conference on》
|
1979年
关键词:
MRF;
digital circuits;
nano science;
probability;
31.
3D System Integration Technologies
机译:
3D系统集成技术
作者:
Beyne Eric
;
Swinnen Bart
会议名称:
《IC Design amp; Technology, 2007 IEEE International Conference on》
|
1979年
关键词:
Hybrid integrated circuit fabrication;
32.
Soft-Error Charge-Sharing Mechanisms at Sub-100nm Technology Nodes
机译:
100纳米以下技术节点的软错误电荷共享机制
作者:
Massengill L. W.
;
Amusan O. A.
;
Dasgupta S.
;
Sternberg A. L.
;
Black J. D.
;
Witulski A. F.
;
Bhuva B. L.
;
Alles M.L.
会议名称:
《IC Design amp; Technology, 2007 IEEE International Conference on》
|
1979年
关键词:
SER;
SEU mechanisms;
charge collection;
charge sharing;
single event effects;
soft errors;
33.
High Energy Neutron Multiple-Bit Upset
机译:
高能中子多位不安
作者:
Tipton Alan D.
;
Pellish Jonathan A.
;
Fleming Patrick R.
;
Schrimpf Ronald D.
;
Reed Robert A.
;
Weller Robert A.
;
Mendenhall Marcus H.
;
Massengill Lloyd W.
会议名称:
《IC Design amp; Technology, 2007 IEEE International Conference on》
|
1979年
关键词:
multiple-bit upset;
neutron;
radiation effects;
soft error;
34.
Statistical STA: Crosstalk Aspect
机译:
统计STA:串扰方面
作者:
Tetelbaum Alexander
会议名称:
《IC Design amp; Technology, 2007 IEEE International Conference on》
|
1979年
关键词:
Algorithms;
B.8.2 Performance and reliability: Performance analysis and design aids;
crosstalk;
design;
performance;
statistical;
timing analysis;
35.
A Simple MOSFET Model Suitable for Fast Timing Analysis
机译:
适用于快速时序分析的简单MOSFET模型
作者:
Nassif Sani R.
;
Booth Richard V.
会议名称:
《IC Design amp; Technology, 2007 IEEE International Conference on》
|
1979年
36.
Continuous Time Interface for 卤1.5 g Closed-Loop Accelerometer
机译:
连续时间接口,用于±1.5 g闭环加速度计
作者:
Aaltonen Lasse
;
Rahikkala Pasi
;
Saukoski Mikko
;
Halonen Kari
会议名称:
《IC Design amp; Technology, 2007 IEEE International Conference on》
|
1979年
37.
MRAM Memory for Embedded and Stand Alone Systems
机译:
适用于嵌入式和独立系统的MRAM存储器
作者:
Durlam M.
;
Chung Y.
;
DeHerrera M.
;
Engel B.N
;
Grynkewich G.
;
Martino B.
;
Nguyen B.
;
Salter J.
;
Shah P.
;
Slaughter J.M.
会议名称:
《IC Design amp; Technology, 2007 IEEE International Conference on》
|
1979年
38.
Importance of Oxygen Vacancies in High K Gate Dielectrics
机译:
高K栅极电介质中氧空位的重要性
作者:
Robertson John
;
Xiong Ka
;
Tse Koon-yiu
会议名称:
《IC Design amp; Technology, 2007 IEEE International Conference on》
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1979年
关键词:
high K oxide;
metal gate;
oxygen vacancy;
work function;
39.
Enabling technologies for 3D System on Chip (SoC) integration and examples of 3D integrated structures
机译:
3D片上系统(SoC)集成的使能技术和3D集成结构的示例
作者:
Charlet Barbara
;
Di Cioccio Lea
;
Leduc Patrick
会议名称:
《IC Design amp; Technology, 2007 IEEE International Conference on》
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1979年
关键词:
3D integration;
technology for vertical ICs integration;
wafer level integration;
40.
Protecting Big Blue from Rogue Subatomic Particles
机译:
保护蓝色免受流氓亚原子粒子的侵害
作者:
Cannon Ethan H.
;
KleinOsowski AJ
;
Gordon Michael S.
;
Heidel David F.
;
Hergenrother Jack
;
Muller K. Paul
;
Oldiges Phil
;
Plettner Cristina
;
Reinhardt Daniel D.
;
Rodbell Kenneth P.
;
Tang Henry H. K.
会议名称:
《IC Design amp; Technology, 2007 IEEE International Conference on》
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1979年
关键词:
alpha particle;
modeling;
radiation event;
single event upset;
soft error;
41.
Supply Voltage Adjustment Technique with Process-Voltage Conversion Table for Low Power Consumption
机译:
具有过程电压转换表的电源电压调节技术可降低功耗
作者:
Inoue Atsuki
;
Okano Hiroshi
;
Shiota Tetsuyoshi
;
Kawabe Yukihito
;
Shibamoto Wataru
;
Hashimoto Tetsutaro
会议名称:
《IC Design amp; Technology, 2007 IEEE International Conference on》
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1979年
关键词:
adaptive supply voltage;
die-to-die process variation;
low power;
multiple threshold voltage CMOS;
42.
FinFET SRAM Process Technology for hp32 nm node and beyond
机译:
适用于hp32 nm节点及更高版本的FinFET SRAM处理技术
作者:
Yagishita Atsushi
会议名称:
《IC Design amp; Technology, 2007 IEEE International Conference on》
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1979年
关键词:
Deviation;
Epi;
FinFET;
SRAM;
Schottky;
43.
A Linear-like Biasing Technique for Nonlinear Circuits
机译:
非线性电路的类线性偏置技术
作者:
Hashemian Reza
会议名称:
《IC Design amp; Technology, 2007 IEEE International Conference on》
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1979年
关键词:
Analog Circuits;
Circuit Design;
Local Biasing;
Simulation;
44.
2Mb SPRAM Design: Bi-Directional Current Write and Parallelizing-Direction Current Read Schemes Based on Spin-Transfer Torque Switching
机译:
2Mb SRAM设计:基于自旋转移转矩切换的双向电流写入和并行方向电流读取方案
作者:
Takemura R.
;
Kawahara T.
;
Miura K.
;
Hayakawa J.
;
Ikeda S.
;
Lee Y. M.
;
Sasaki R.
;
Goto Y.
;
Ito K.
;
Meguro T.
;
Matsukura F.
;
Takahashi H.
;
Matsuoka H.
;
Ohno H.
会议名称:
《IC Design amp; Technology, 2007 IEEE International Conference on》
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1979年
关键词:
Spin-transfer torque;
TMR;
low power RAM;
nonvolatile RAM;
universal RAM;
45.
Efficient Transient Analysis of Power Grids
机译:
电网的高效瞬态分析
作者:
Xu Chenggang
;
Nassif Sani
;
Liu Frank
;
Balasubramanian Raju
会议名称:
《IC Design amp; Technology, 2007 IEEE International Conference on》
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1979年
关键词:
Circuit simulation;
power grids;
signal integrity;
transient analysis;
46.
Nitrogen Profile and Dielectric Cap Layer (Al2O3, Dy2O3, La2O3) Engineering on Hf-Silicate
机译:
Hf-硅酸盐的氮分布和介电盖层(Al2O3,Dy2O3,La2O3)工程
作者:
Cho H. -J.
;
Yu H. Y.
;
Ragnarsson L.-A.
;
Chang V. S.
;
Schram T.
;
OSullivan B. J.
;
Kubicek S.
;
Mitsuhashi R.
;
Akheyar A.
;
Van Elshocht S.
;
Witters T.
;
Delabie A.
;
Adelmann C.
;
Rohr E.
;
Singanamalla R.
;
Chang S. -Z.
;
Swerts J.
;
Lehnen P.
;
De Gendt S.
;
Absi
会议名称:
《IC Design amp; Technology, 2007 IEEE International Conference on》
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1979年
关键词:
Aluminum oxide;
DPN;
Dielectric Cap layer;
Dysprosium oxide;
HfSiO;
High-k;
Lanthanum oxide;
Metal gate;
Single metal gate;
47.
An Offset Cancellation Technique for Two-Stage CMOS Operational Amplifiers
机译:
两级CMOS运算放大器的失调对消技术
作者:
Lu Chih-Wen
会议名称:
《IC Design amp; Technology, 2007 IEEE International Conference on》
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1979年
关键词:
offset;
offset cancellation;
offset voltage;
op-amp;
operational amplifier;
48.
Impact of SOI History Effect on Random Data Signals
机译:
SOI历史记录对随机数据信号的影响
作者:
Jenkins K.A.
;
Kim S.
;
Kowalczyk S.P.
;
Friedman D.
会议名称:
《IC Design amp; Technology, 2007 IEEE International Conference on》
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1979年
关键词:
SOI;
communications;
data;
floating body;
history effect;
49.
Effects of Drift-Region Design on the Reliability of Integrated High-Voltage LDMOS Transistors
机译:
漂移区设计对集成高压LDMOS晶体管可靠性的影响
作者:
Chen Jone F.
;
Chen Shiang-Yu
;
Tian Kuen-Shiuan
;
Wu Kuo-Ming
;
Su Yan-Kuin
;
Liu C. M.
;
Hsu S. L.
会议名称:
《IC Design amp; Technology, 2007 IEEE International Conference on》
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1979年
关键词:
LDMOS transistor;
hot-carrier;
integrated high-voltage device;
reliability;
50.
A Novel 90nm 8T SRAM Cell With Enhanced Stability
机译:
具有增强稳定性的新型90nm 8T SRAM单元
作者:
Sil Abhijit
;
Ghosh Soumik
;
Bayoumi Magdy
会议名称:
《IC Design amp; Technology, 2007 IEEE International Conference on》
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1979年
51.
Four-Terminal FinFET Device Technology
机译:
四端子FinFET器件技术
作者:
Masahara M.
;
Endo K.
;
Liu Y.X.
;
Ouchi S.
;
Matsukawa T.
;
Surdeanu R.
;
Witters L.
;
Doornbos G.
;
Nguyen V. H.
;
Van den bosch G.
;
Vrancken C.
;
Jurczak M.
;
Biesemans S.
;
Suzuki E.
会议名称:
《IC Design amp; Technology, 2007 IEEE International Conference on》
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1979年
关键词:
4T-FinFET;
asymmetric gate oxide thickness;
double gate separation;
dynamic power management;
flexible Vth control;
52.
Inductive-Coupling Transceiver for 3D System Integration
机译:
用于3D系统集成的电感耦合收发器
作者:
Miura Noriyuki
;
Kuroda Tadahiro
会议名称:
《IC Design amp; Technology, 2007 IEEE International Conference on》
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1979年
53.
Design of Small Area and Low Power Consumption Mask ROM
机译:
小面积低功耗掩模ROM的设计
作者:
Cui Wei
会议名称:
《IC Design amp; Technology, 2007 IEEE International Conference on》
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1979年
关键词:
Address Decoder;
CMOS Technology;
Read Only Memory (ROM);
Sense Amplifier;
54.
Hierarchical Power Distribution with 20 Power Domains in 90-nm Low-Power Multi-CPU Processor
机译:
90纳米低功耗多CPU处理器中具有20个电源域的分层配电
作者:
Kanno Yusuke
;
Mizuno Hiroyuki
;
Yasu Yoshihiko
;
Hirose Kenji
;
Shimazaki Yasuhisa
;
Hoshi Tadashi
;
Miyairi Yujiro
;
Ishii Toshifumi
;
Yamada Tetsuya
;
Irita Takahiro
;
Hattori Toshihiro
;
Yanagisawa Kazumasa
;
Irie Naohiko
会议名称:
《IC Design amp; Technology, 2007 IEEE International Conference on》
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1979年
55.
Modeling Alpha and Neutron Induced Soft Errors in Static Random Access Memories
机译:
在静态随机存取存储器中模拟Alpha和中子引起的软错误
作者:
Warren Kevin M.
;
Wilkinson Jeffrey D.
;
Morrison Scott
;
Weller Robert A.
;
Porter Mark E.
;
Sierawski Brian D.
;
Reed Robert A.
;
Mendenhall Marcus H.
;
Schrimpf Ron D.
;
Massengill Lloyd W.
会议名称:
《IC Design amp; Technology, 2007 IEEE International Conference on》
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1979年
关键词:
alpha;
neutron;
radiation;
reliability;
soft error;
56.
A Model for Negative Bias Temperature Instability in Oxide and High 驴 pFETs
机译:
氧化物和高驴pFET的负偏置温度不稳定性模型
作者:
Zafar Sufi
会议名称:
《IC Design amp; Technology, 2007 IEEE International Conference on》
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1979年
关键词:
Model;
NBTI;
high k/metal gate pFETs;
oxide pFETs;
57.
Analysis of Power Efficiency for Four-Phase Negative Charge Pumps with Body Potential Control
机译:
带体势控制的四相负电荷泵的功率效率分析
作者:
Hsu Chien-pin
;
Lin Hongchin
会议名称:
《IC Design amp; Technology, 2007 IEEE International Conference on》
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1979年
58.
Cell BE SOC Debug Features
机译:
Cell BE SOC调试功能
作者:
Riley Mack
;
Genden Mike
会议名称:
《IC Design amp; Technology, 2007 IEEE International Conference on》
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1979年
59.
Fast Estimation of Main Intermodulation Products Using Volterra Series
机译:
使用Volterra系列快速估算主要互调产物
作者:
Dobes Josef
会议名称:
《IC Design amp; Technology, 2007 IEEE International Conference on》
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1979年
关键词:
Steady-state algorithm;
Volterra series;
fast Fourier transform;
four-quadrant multiplier;
numerical integration;
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