基于SRAM低核电压FPGA对单粒子效应的敏感性分析

摘要

以Xilinx生产的基于SRAM的低核电压FPGA芯片XCV300为例，结合单粒子辐射效应试验数据，分析了单粒子辐射效应对SRAM型FPGA的影响。文章中介绍了单粒子辐射试验的方案设计、实施方法和试验结果，并以列表和图形的方式给出了XCV300的单粒子翻转截面值。文章可以为SRAM型FPGA在航天领域中的应用提供参考。