Micron, Via Olivetti, 2, 20040 Agrate Brianza (MB) Italy;
Micron, Via Olivetti, 2, 20040 Agrate Brianza (MB) Italy;
Micron, Via Olivetti, 2, 20040 Agrate Brianza (MB) Italy;
Micron, Via Olivetti, 2, 20040 Agrate Brianza (MB) Italy;
MEMC Electronic Materials SpA, Viale Gherzi, 31 28100 Novara, Italy;
MEMC Electronic Materials SpA, Viale Gherzi, 31 28100 Novara, Italy;
Fraunhofer IISB, Schottkystrasse 10, 91058 Erlangen, Germany;
Fraunhofer IISB, Schottkystrasse 10, 91058 Erlangen, Germany;
Fraunhofer IISB, Schottkystrasse 10, 91058 Erlangen, Germany;
Fraunhofer IISB, Schottkystrasse 10, 91058 Erlangen, Germany;
ST Microelectronics, Via Olivetti, 2, 20040 Agrate Brianza (MB) Italy;
ST Microelectronics, Via Olivetti, 2, 20040 Agrate Brianza (MB) Italy;
oxide-silicon interface; organic contamination; surface segregation; MOS-DLTS;
机译:污染的氧化物-硅界面的分析
机译:快速热处理法生成氧化物-硅界面态及and灭的研究
机译:陷阱态在多晶硅硅薄膜晶体管中的氧化物-硅界面的影响
机译:污染氧化硅界面分析
机译:在受污染的气泡界面传质。
机译:自定步调计算机接口在数据上的性能被眼动伪影和记录在其中的数据污染随后的会议
机译:地下水波动下污染的地下污染的液面污染的液面的概述基础
纸张4.在地下水位波动期间用光石油产品污染的液面污染的流体系统分析
机译:用离子微生物技术分析氧化铝污染的铒 - 钾合金界面