机译:电源模块封装的快速3D热仿真
机译:热增强型FC-PBGA组件的热特性研究
机译:密封封装GaN HEMTS电源开关中的通道温度测量使用快速静态和瞬态热方法
机译:快速静态RAM 164引导FC-PBGA封装的热仿真和验证,具有通用CPU模块中的封装热性能的研究
机译:快速的芯片级静态和瞬态热分析方法,用于封装中VLSI IC的热管理。
机译:用于热包装应用的热还原氧化石墨烯/碳纳米管复合薄膜
机译:热增强Fc-PBGA组件热表征的研究
机译:微电子封装的热阻。第1部分:mIL-sTD-883的推荐方法1012(热特性)。第2部分。热测试封装和mIL-m-38510封装的分析和实验数据摘要。