Texas Instruments Incorporated, 13121 TI Blvd., MS 365, Dallas, TX 75243;
CD-SEM; OPC; pattern matching; SEM image analysis; edge placement error; automatic recipe generation;
机译:自动生成薄膜工艺流程。二。配方生成,流程评估和系统框架
机译:利用嵌入式存储器模型改善SoC设计流程:Jay Abraham描述了一种用于准确,完整的时序和功率模型生成的方法
机译:使用设计数据自动生成CD-SEM成像序列
机译:通过使用具有自动测试结构布局和CD-SEM配方生成的简化数据流和CD-SEM食谱生成的精确OPC模型生成
机译:使用基于数据依赖的可测试性转换自动生成测试数据。
机译:通过用于神经生理数据管理分析和模拟的数据库工具自动生成隔室模型
机译:使用设计数据自动生成CD-SEM的测量配方
机译:为第二代Glide-Back-Booster生成自动CFD数据库