Numerical Technologies, Inc. USA;
alternating aperture PSM; defect inspection; defect printability analysis;
机译:用于观察极紫外光刻掩模以预测相缺陷可印刷性的高倍成像光学元件特性的模拟分析
机译:使用极紫外显微镜研究可印刷相缺陷的临界尺寸:II。孔坑缺陷的可打印阈值区域的定义
机译:超声清洗导致交替相移掩模失效的动态有限元分析
机译:193 nm光刻中交替相移掩模的缺陷可印性分析研究
机译:用于相移掩模设计的广义逆光刻方法。
机译:GOG248的肿瘤突变分析一项替西罗莫司或替西罗莫司的II期研究以及交替使用乙酸孕甾醇和他莫昔芬治疗晚期子宫内膜癌(EC):NRG肿瘤/妇科肿瘤小组研究
机译:通过使用具有特定相位宽度的交替相移掩模标记进行彗星测量