Moscow State Institute of Radioengineering, Electronics Automation (Technical University), Russia;
机译:电子系统,用于研究具有高介电损耗的铁电薄膜的电滞后
机译:表面缺陷对一阶铁电体系中铁电薄膜性能影响的理论研究
机译:表面缺陷对一阶铁电体系中铁电薄膜性能影响的理论研究
机译:虚拟测量系统铁电薄膜的研究
机译:利用同步加速器X射线微衍射研究铁电薄膜电容器中的铁电和压电。
机译:超薄弛豫铁电薄膜中的铁电和自极化
机译:多层薄膜中的极性和磁滞回线 铁电/虚拟铁电
机译:用扫描力显微镜研究铁电薄膜偏振保持损耗的纳米尺度