Institute of Microelectronics and Informatics, Russian Academy of Sciences, Russia;
thermodifrusion; temperature gradient; heat of transport;
机译:氢注入硅中杂质的低温扩散
机译:温度分布不均匀的超薄硅层中杂质原子扩散的现象学模型
机译:硅中低温碳共注入:缺陷抑制和扩散模拟
机译:温度梯度下硅中离子植入杂质的扩散模拟
机译:离子注入的硼在硅中的扩散:晶格缺陷和共注入杂质的影响。
机译:梯度脉冲持续时间对双隔室交换模型扩散峰度MRI估计的影响
机译:注入原子的瞬态间隙扩散模型 在硅衬底的低温退火期间