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基于多晶硅中金属杂质去除的低温磷吸杂扩散工艺

摘要

本发明公开了一种基于多晶硅中金属杂质去除的低温磷吸杂扩散工艺,主要包括以下步骤:(1)进舟;(2)升温稳定;(3)第一步沉积;(4)第二步沉积;(5)推进;(6)吸杂;(7)低温再次推进;(8)降温退火出舟。本发明通过太阳能行业生产过程中多晶硅扩散工艺的创新来实现低少子寿命B类多晶硅片中金属离子的去除和硅片晶体结构的改善,提高地少子寿命B类片所产出的太阳能电池光电转换效率,使得此类硅片少子寿命平均值不低于12μs,并且使该类硅片生产的电池效率比使用产线正常工艺生所产生电池的电池效率高0.2%。

著录项

  • 公开/公告号CN102703987B

    专利类型发明专利

  • 公开/公告日2015-03-11

    原文格式PDF

  • 申请/专利号CN201210187707.9

  • 发明设计人 姜丽丽;路忠林;盛雯婷;张凤鸣;

    申请日2012-06-08

  • 分类号C30B31/06(20060101);H01L31/18(20060101);

  • 代理机构51220 成都行之专利代理事务所(普通合伙);

  • 代理人谭新民;谢敏

  • 地址 610000 四川省成都市双流县西南航空港经济开发区天威路1号

  • 入库时间 2022-08-23 09:24:19

法律信息

  • 法律状态公告日

    法律状态信息

    法律状态

  • 2018-06-29

    未缴年费专利权终止 IPC(主分类):C30B 31/06 授权公告日:20150311 终止日期:20170608 申请日:20120608

    专利权的终止

  • 2015-03-11

    授权

    授权

  • 2015-03-11

    授权

    授权

  • 2012-11-28

    实质审查的生效 IPC(主分类):C30B 31/06 申请日:20120608

    实质审查的生效

  • 2012-11-28

    实质审查的生效 IPC(主分类):C30B 31/06 申请日:20120608

    实质审查的生效

  • 2012-10-03

    公开

    公开

  • 2012-10-03

    公开

    公开

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