首页> 外文会议>Conference on Infrared Technology and Applications XXX pt.1; 20040412-20040416; Orlando,FL; US >Characterization of InAlAs/InGaAs APD arrays for SWIR imaging applications
【24h】

Characterization of InAlAs/InGaAs APD arrays for SWIR imaging applications

机译:用于SWIR成像应用的InAlAs / InGaAs APD阵列的表征

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摘要

40x40 element InAlAs/InGaAs APD arrays have been fabricated and characterized for performance in short wave infrared (SWIR) applications. Characterization data collected to date indicate that the arrays have > 99% operability at operating gains of 10. The median un-multiplied dark current for an array element is about 170 pA, and the un-multiplied responsivity at 1550 nm is about 0.75 AAV.
机译:已经制造出40x40元素的InAlAs / InGaAs APD阵列,并对其在短波红外(SWIR)应用中的性能进行了表征。迄今为止收集的表征数据表明,在工作增益为10时,阵列具有> 99%的可操作性。阵列元件的中值未乘以暗电流约为170 pA,在1550 nm处的未乘响应度约为0.75 AAV。

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