Department of Electronics Engineering, Indian Institute of Technology (Indian School of Mines), Dhanbad 826004, India;
Department of Electronics Engineering, Indian Institute of Technology (Indian School of Mines), Dhanbad 826004, India;
Department of Electronics Engineering, Indian Institute of Technology (Indian School of Mines), Dhanbad 826004, India;
机译:第一性原理在高压下wz-AlN和wz-GaN半导体的弹性常数和德拜温度
机译:压力对Rh3Nb的结构,电子和弹性性能以及Debye温度的影响:第一性原理计算
机译:通过第一性原理计算和Debye-Gruneisen模型,温度和压力对Ca-Ge系统中相稳定性的影响
机译:不同压力下光电LIGAS_2和LIGASE_2半导体DEYBY温度的第一原理计算
机译:根据第一性原理计算的几种窄带隙半导体的高压特性
机译:通过第一性原理计算立方WO3的电子结构弹性德拜温度和各向异性
机译:第一原理计算中的电子结构,弹性,德比温度和立方WO 3的各向异性