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National Institute of Standards and Technology 100 Bureau Drive Gaithersburg MD 20899 KT Consulting Inc. 2545 10th Street Suite A Antioch CA 94509;
critical dimension; diffraction; gratings; metrology; process control; scatterometry; standards;
机译:测量配置优化应用光学散射测量对多层光栅中子波长尺寸的精确计量
机译:散射法间接测量的灵敏度分析和周期性光栅结构的重建
机译:基于多波长散射和人工神经网络的光刻胶光栅轮廓测量
机译:建模有限尺寸光栅对散射测量的影响
机译:对微观/纳米结构的辐射特性进行严格建模,并与制造的光栅和狭缝阵列的测量结果进行比较。
机译:光纤布拉格光栅和高阶扩展有限元方法对孔边缘裂纹尺寸的概率模型更新
机译:线边缘的解析建模与三维有限元模拟 散射仪的粗糙度