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横型SAM構造導波路型Ge-APD

机译:横型SAM构造导波路型Ge-APD

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摘要

インターネットトラフィックの増加とともに、 ネットワーク端末の小型化、高性能化が求められている。そこで我々はSi導波路によるパッシブデバイスとの集積により光送受信装置の小型化 が期待できる上に、面受光型とは異なり量子効率 と応答速度を独立に制御可能であるメリットを持つ、Siフォト二タス技術を用いた導波路型 Ge-PIN-PDを試作評価してきた[1]-[2]。今回、我々 は次世代PON (Passive Optical Network)システム として期待されているTWDM (Time and Wavelength Division Multiplexing)-PONをターゲ ットとし、1600nm帯波長を受信する加入者側端 末ONU (Optical Network Unit)の受信機に適した 受光素子として横型SAM (Separated Absorption and Multiplication)構造のGe-APDを試作し、静 特性を評価した。我々の知る限り、導波路型 Ge-APDに対して1600nm帯の特性を評価した例 は世界で初めてである。その結果、 TWDM-PONに適合が期待される特性を得るこ とができたので、以下に報告する。
机译:随着因特网流量的增加,需要网络终端的小型化和更高的性能。因此,我们可以期望通过与使用Si波导的无源器件集成来实现光收发器的小型化,并且与表面接收类型不同,我们具有可以独立控制量子效率和响应速度的优势。我们已经通过Tas技术[1]-[2]对波导型Ge-PIN-PD进行了实验评估。这次,我们将目标定为有望作为下一代PON(无源光网络)系统的TWDM(时分和波分复用)​​-PON,并将目标用户端接收1600 nm波段波长的ONU(光网络单元)作为目标。作为适合于(1)中的接收器的光电探测器,对横向SAM(分离吸收和倍增)结构Ge-APD进行了原型设计并评估了其静态特性。据我们所知,这是世界上第一个评估1600 nm波段Ge-APD波导特性的示例。结果,我们能够获得预期与TWDM-PON兼容的特性,因此在下面进行报告。

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