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アンチモナイドを機能層とする光ディスクの超解像再生メカニズムの解析

机译:以锑为功能层的光盘超分辨率再现机理分析

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摘要

InSb やSb_2Te_3 などのアンチモナイドを機能層とする光ディスクでは、機能層の一部がレーザー光照射によって融解し、その光学定数の変化によって光の解像限界以下の微小ピットを読み取ることができる「超解像現象」が起こることが知られている。本研究では、この現象のメカニズムや性質を明らかにするため、光ディスク内での光の伝搬と熱伝導の連成物理シミュレーションを行ってきた。これまでにInSb を機能層とする計算結果について報告してきたが[1]、よりリアルなシミュレーションのため、融解・凝固の過渡現象の効果を取り入れた新しいシミュレーションコードを開発した。そして、融解によって光吸収(波長405nm)が増大するInSb と逆に光吸収が減少するSb2Te3 の2 つの機能層材料に対してシミュレーションを行い、両者の超解像メカニズムに違いについて調べた。
机译:在使用诸如InSb和Sb_2Te_3的锑化物作为功能层的光盘中,功能层的一部分通过激光照射而熔化,并且可以通过改变光学常数来读取低于光的分辨率极限的微小凹坑。已知发生“图像现象”。在这项研究中,为了阐明这种现象的机理和性质,我们对光盘中的光传播和热传导进行了耦合的物理模拟。到目前为止,我们已经报告了使用InSb作为功能层的计算结果[1],但是为了进行更真实的仿真,我们开发了一种新的仿真代码,其中包含了熔化和凝固的瞬态现象的影响。然后,对两种功能层材料进行了仿真,InSb的光吸收(波长405 nm)由于熔化而增加,而Sb2Te3的光吸收相反地减小,并研究了它们的超分辨率机理的差异。

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