フーコーナイフエッジと拡散板を用いたX線微分位相結像

摘要

我々は、ゾーンプレート顕微鏡とフーコーナイフエッジを組み合わせたX線微分位相コントラスト顕微鏡を放射光施設Photon Factory BL3Cに設置して開発を行っている。この顕微鏡では、試料を2結晶分光器からの平行X線で照明し、対物ゾーンプレート後焦点においてナイフエッジを露光中に走査することによって比較的定量的な微分位相像および位相 CT 像を得ることに成功した。しかしながら、この手法は露光中にナイフエッジを数ミクロンの範囲で正確に走査する必要があり、特に CT のような多数の投影像を連続的に得る場合にはその位置決め精度が問題となっていた。そこで今回は、拡散板によって照明X線をわずかに振ることによってエッジ走査と同様の結果が得られないかどうかの検討を行った。