X射线相位衬度成像无损检测与评价技术

摘要

随着我国航空、航天事业的发展，对材料和结构的可靠性要求越来越高，急需有效的NDT/E方法。本文从物质的X射线复折射率出发，介绍了X-PCI的基本概念和特点，分析了干涉、衍射增强、光栅差分、同轴传播等四种实现相位衬度成像的技术手段，描述了在相位衬度投影成像和层析成像方面取得的进展，以及在材料性能无损检测与评价方面的应用实例，展望了相位衬度成像技术在材料科学领域的应用前景。