Center of Micro/Nano science and Technology, JiangSu University ZhenJiang 212013 China;
机译:M-TEST:一种用于使用静电驱动测试结构测量MEMS材料性能的测试芯片
机译:对“ M测试:使用静电驱动的测试结构测量记忆材料性能的测试芯片”的更正
机译:VM-TEST:使用在厚金属层中制造的静电驱动垂直MEMS测试结构进行机械性能测量
机译:磁体线圈力致动器微调试验装置测量MEMS结构材料的机械性能
机译:薄膜MEMS结构材料特性的光声测量。
机译:理解中风血栓切除术装置的径向力以最小化血管壁损伤:与模拟MCA血管直径的激光切割支架检索相比新型编织血液切除术辅助装置产生的径向力的机械台阶测试
机译:m-TEsT:使用静电驱动测试结构测量mEms材料特性的测试芯片