Department of Materials Science and Engineering, Carnegie Mellon University Pittsburgh PA 15213, USA;
electron microscopy; stacking faults; structural defects;
机译:高氮掺杂4H-SiC外延层中的少数载流子寿命短,可抑制PiN二极管中的堆叠故障形成
机译:高掺杂4H-SiC外延层中基面位错堆积缺陷的观察
机译:紫外光致发光成像光谱技术在厚,轻度n型掺杂,4°-off 4H-SiC外延层上的堆垛层错识别中的应用
机译:高掺杂4H-SiC外延层中Shockley堆垛层错的扩展
机译:基于4h-sic n型外延层和cdznte的紧凑型高分辨率辐射探测器的制造与表征。
机译:铝掺杂CrMnFeCoNi高熵合金的广义堆垛层错能
机译:紫外光致发光成像光谱技术在厚,轻度n型掺杂,4°-off 4H-SiC外延层上的堆垛层错识别中的应用