Department of EECS, University of Michigan, Ann Arbor, MI 48109-2122, USA;
机译:部分耗尽的SOI-CMOS中的体接触自偏压效应以及抑制浮体效应的替代方法
机译:在高温下工作的部分耗尽的浮体SOI nMOS中的交流浮体效应:模拟电路的前景
机译:部分耗尽的SOI CMOS电路中的浮体效应
机译:部分耗尽SOI-CMOS中浮电压传递特性及电路样式的比较分析
机译:纳米栅极长度部分耗尽硅-NON-insulator CMOS器件和电路中浮体效应的分析,建模和控制
机译:院外原发性心脏骤停患者与溺水患者合并心脏骤停的特征和结果的比较:基于Utstein溺水方式的变量分析
机译:基于概率电压传递特性的逻辑电路NBTI感知暂态故障率分析方法