Key Laboratory of Microelectronic Devices and Circuits (MoE), Institute of Microelectronics, Peking University, Beijing, 100871, Chinac;
Electrostatic discharge (ESD); dual-directional silicon controlled rectifier (dSCR); holding voltage; triggering voltage;
机译:采用虚拟门结构制造的SCR器件可提高开启速度,从而在CMOS技术中提供有效的ESD保护
机译:在0.13 / 0.18 / 0.35um工艺技术中基于SCR的ESD保护器件(PTSCR)的电气特性分析
机译:智能电源技术ESD保护设备的ESD应力和故障分析期间的干涉式温度映射
机译:用于ESD保护的虚设栅极双向SCR(DSCR)设备分析
机译:新型基于硅的可控整流器(SCR)的器件的设计,表征和紧凑模型,用于集成电路中的静电放电(ESD)保护应用。
机译:具有嵌入式PMOSFET的鲁棒和锁定的免疫LVTSCR器件用于28 nm CMOS过程中的ESD保护
机译:利用虚拟门结构实现片上EsD保护,提高衬底触发可控硅器件的导通速度
机译:业余/军用无线电系统设备保护装置的电磁脉冲/瞬态威胁测试。第3卷。测试数据,保护装置的电磁脉冲测试。第7节。设备和器件测试说明。