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THz Indium Phosphide Bipolar Transistor Technology

机译:太赫兹磷化铟双极晶体管技术

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摘要

Scaling laws and limits of THz indium Phosphide heterojunction bipolar transistors (HBTs) are presented. The primary limits to scaling through the 32 nm / 3 THz node are the resistivity, penetration depth, and current-carrying capability of the emitter and base contacts. A processes flow with refractory dry-etch emitter and base contacts is presented. Beyond the 32 nm node, degenerate injection in the emitter-base junction limits transconductance and impedes scaling. At the 32 nm node, bandwidths will be sufficient for 1.4 THz transmitters and receivers.
机译:提出了太赫兹磷化铟异质结双极晶体管(HBT)的定标律和极限。缩放通过32 nm / 3 THz节点的主要限制是发射极和基极触点的电阻率,穿透深度以及载流能力。提出了具有耐火干蚀刻发射极和基极触点的工艺流程。在32 nm节点之外,发射极-基极结的退化注入会限制跨导并阻碍结垢。在32 nm节点,带宽足以满足1.4 THz发射器和接收器的需要。

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