Dept. of Inf. Syst. Comput., Brunel Univ., Uxbridge, UK;
Real-time embedded systems; Real-time model-based testing; TA; Timed fault model; UTA;
机译:使用保证故障覆盖测试定时无限制的有限状态机
机译:基于故障覆盖的测试套件优化方法,用于回归测试:从基于错误的方法学习
机译:在测试长度约束下状态可观的FSM增加故障覆盖率的故障相关测试生成方法
机译:定时测试案例生成方法的故障覆盖率测量
机译:过渡故障和过渡路径延迟故障:测试生成,路径选择以及功能性侧面测试的内置生成。
机译:考虑故障排除效率和错误产生的测试覆盖软件可靠性模型
机译:目标故障检测次数的定义及其指导高缺陷覆盖率测试生成的有效性
机译:容错系统中的潜在故障和覆盖。一种用于辅助测试生成的VLsI CmOs电路设计技术